数字IC笔试模拟题(六)

19：

关于DFT的描述错误的是：

A.  DFT测试不能覆盖电路时序问题

B.  DFT测试过程通常会消耗大量的动态功耗

C.  DFT的主要目的是发现芯片生产过程中出现的缺陷

D. 寄存器扫描链是一种常用的DFT技术

• DFT 能够覆盖电路时序问题。DFT 的 Scan Chain 扫描链：针对时序电路，测试寄存器（Flip-Flop）和组合逻辑。

• DFT里涉及大量 MUX 选择开关，因此会消耗大量的动态功耗。

• DFT是一种为达到故障检测目的所进行的辅助性设计方法，使制作完成后的芯片能达到"可控制性"和"可测试性"两个目的。

• Scan Chain（扫描链）的插入，目的是将普通寄存器换成扫描寄存器（scan Flip Flop）的过程，是使用最广泛的DFT技术之一。

20：

下列EDA工具中，哪个不具备逻辑综合功能

A.  Synplify

B.   Quartus II

C.  Modelsim

D.  ISE

Modelsim用于仿真

21:

对芯片静态功耗影响最大的是哪一项

A. 工作模式

B. 频率

C. 负载

D. 电压

静态功耗 = 静态工作电流 * 工作电压

影响静态功耗的主要因素：漏电流与工作电压，其中漏电流与工艺有关。