题解 | #不重叠序列检测#
不重叠序列检测
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我的思路比较简单，把输入的data按位置摆放在6bit寄存器的对应位置，从高到低就这么循环摆放，凑够6个数后用6bit寄存器的值去和对应的值比较，比上了就输出match，比不上就输出not_match。
循环转的msk信号，对应位置1表示这拍的data放置位置，为什么不使用count呢是因为相比于选择逻辑我更喜欢与或逻辑，映射的电路结构更加清晰：
6bit的seq寄存器，与或逻辑产生seq的D端，seq的复位值我用的匹配序列取反值：
因为示意图时序里，第6个data的下一拍就要出match/not_match，所以用seq的D端来做逻辑：
循环转的msk信号，对应位置1表示这拍的data放置位置，为什么不使用count呢是因为相比于选择逻辑我更喜欢与或逻辑，映射的电路结构更加清晰：
reg[5:0]msk; always @(posedge clk&nbs***bsp;negedge rst_n)begin if(~rst_n)begin msk <= 6'b100000; end else if (msk == 6'b000001)begin msk <= 6'b100000; end else begin msk <= (msk>>1); end end
6bit的seq寄存器，与或逻辑产生seq的D端，seq的复位值我用的匹配序列取反值：
parameter MATCH_SEQ = 6'b011100;
parameter NOT_MATCH_SEQ = ~MATCH_SEQ;
reg[5:0]seq;
wire[5:0]seq_d = (msk & {6{data}}) | (~msk & seq);
always @(posedge clk&nbs***bsp;negedge rst_n)begin
if(~rst_n)begin
seq <= NOT_MATCH_SEQ;
end
else begin
seq <= seq_d;
end
end
因为示意图时序里，第6个data的下一拍就要出match/not_match，所以用seq的D端来做逻辑：
wire match_d = (seq_d == MATCH_SEQ); wire not_match_d = (seq_d != MATCH_SEQ); always @(posedge clk&nbs***bsp;negedge rst_n)begin if(~rst_n)begin match <= 1'b0; not_match <= 1'b0; end else if (msk == 6'b000001)begin match <= match_d; not_match <= not_match_d; end else begin match <= 1'b0; not_match <= 1'b0; end end
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