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IC设计的流程

1. 芯片架构设计:考虑芯片定义、工艺、封装等; 2. RTL设计:使用Verilog/VHDL/SystemVerilog进行描述;(文本编辑器) 3. 功能仿真:理想情况下的仿真;(VCS/ModelSim/QuestaSim/NCVerilog等) 4. 验证:UVM验证方法学、FPGA原型验证;(VCS/QuestaSim/NCVerilog/Vivado+FPGA开发板) 5. 综合:逻辑综合,将描述的RTL代码映射到基本逻辑单元门、触发器上;(Design Compiler) 6. DFT:插入扫描链;(DFT Compiler) 7. 等价性检查:使用形式验证技术;(Formality) 8. STA:静态时序分析(Prime Time) 9. Floorplan: 布局规划(ICC) 10. CTS:时钟树综合,均匀地分配时钟,减少设计中不同部分间的时钟偏移;(ICC) 11. 布局布线:保证没有太多的内部交互,避免布线上的拥堵和困扰;(ICC) 12. DRC+LVS:设计规则检查+版图和原理图比较;(Calibre) 13. STA: 静态时序分析(Prime Time) 14. 寄生参数抽取后仿(Calibre/StarRC) 15. 生成GDSII文件用于流片
发表于 2022-08-13 14:14:47 回复(0)
分为逻辑设计和物理设计: 逻辑设计: 架构设计,主要包括对系统高层次的设计,频率、功耗、面积、功能; RTL设计,使用RTL完成对电路功能行为的抽象; 功能验证,输入测试向量,在功能上对RTL进行验证,对时序不做要求; 逻辑综合,使用常用工具DC,根据时序要求和RTL将电路映射到标准的网表上。主要分为三步,一是翻译,根据RTL将语言翻译成响应的功能块以及拓扑结构,不做任何优化;二是优化,根据所施加的时序和面积约束,按照一定的算法进行逻辑优化;三是映射,根据所施加的时序和面积约束,从目标工艺库中搜索出符合条件的标准单元进行映射,得到网表。 可测试性设计,例如插入扫描链,在寄存器端增加多路选择器,让用户可以通过扫描时钟和扫描使能信号控制寄存器,将寄存器都链接到一条链路上称为扫描链。进入触发器的值可以通过扫描使能信号控制,从而进行验证; 形式比对:比对网表和RTL,判断综合后是否改变其功能; 静态时序分析:根据时序和面积要求,对综合后的网表进行约束,检测是否满足时序条件; 物理设计: 布局布线,经过初步时序分析,设计的逻辑块以优化区域、长宽比、基本单元为目标进行布局,保证没有太多交互,防止布线拥堵。接着是插入时钟树,尽量均匀的分布时钟,减少始终偏斜。布线; 设计规则检查:遵守代工厂制造芯片的所有规则, 签名时序分析后最终生成GDSⅡ
发表于 2022-07-13 08:28:43 回复(0)
1. 项目需求 包括: ①工艺、面积、封装 ②频率、功耗 ③功能、接口 2. 前端设计 - RTL代码设计:寄存器级描述 - 功能验证:也叫动态仿真,如用Modelsim / VCS对设计的模块进行验证 - 逻辑综合:也叫DC,作用是得到综合后的门级网表Netlist - STA:静态时序分析,若满足约束,得到最终的Netlist - 形式验证:也叫静态验证,保证在逻辑综合过程中没有改变原先RTL电路功能 - DFT:可测性设计,测试芯片制作有无缺陷,一般是在电路中插入扫描链 3.后端设计 - 布局布线 - 提取延迟信息 - 再次STA - 版图物理验证 - 流片
发表于 2022-07-14 17:00:51 回复(0)
芯片需求分析、芯片级spec、IP设计验证、芯片集成、RTL仿真验证、代码检查、FPGA Emulation、design review、DC综合、DFT、布局布线、DRC检查/电路功能与时延提取、形式验证/timing signoof、带delay的gate level仿真、芯片
发表于 2023-02-27 15:30:50 回复(0)