1. 负责全芯片的测试计划和测试结构定义； 2. 从事 DFT 设计流程改进、DFT 的实现和验证，包括 MBIST、SCAN、boundary scan、和 IP 功能测试设计及验证； 3. 负责 DFT 各个测试项的前仿，后仿验证及测试向量生成； 4. 完成 DFT 相关的 STA/power/IR 方面的 Signoff； 5. 设计，执行和检验其他 DFX(Design for debug, characterization, yield etc. ); 6. 与测试和产品团队协作，完成芯片 ATE 测试和良率分析，负责解决芯片量产过程中出 现的任何测试问题。