39.现代电子设计方法包含了可测试设计,

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39.现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。
A.BIST
B.JTAG
C.UART
D.USB
#福大大架构师每日一题#
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用微笑面对困难:只要你保证项目和获奖都是真的就行尤其是“对战,总负责人”啊这些套职,基本上队员,打杂的都这么写
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09-29 07:57
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门头沟学院 Java
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